ESJ120-4B电子分析天平。外部校准万分之一天平，称量范围：120g，可读性：0.1mg，后置式电磁力传感器技术获得更高的分辨率。配备外置F1级无磁不锈钢校准砝码，随时随需校准。

ESJ200-4B电子分析天平。外部校准万分之一天平，称量范围：200g，可读性：0.1mg，后置式电磁力传感器技术获得更高的分辨率。配备外置F1级无磁不锈钢校准砝码，随时随需校准。

ESJ210-4B电子分析天平。外部校准万分之一天平，称量范围：210g，可读性：0.1mg，后置式电磁力传感器技术获得更高的分辨率。配备外置F1级无磁不锈钢校准砝码，随时随需校准。

ESJ220-4B电子分析天平。外部校准万分之一天平，称量范围：220g，可读性：0.1mg，后置式电磁力传感器技术获得更高的分辨率。配备外置F1级无磁不锈钢校准砝码，随时随需校准。

HZK-FA110电子分析天平。万分之一电子分析天平，称量范围：0~110g，可读性：0.1mg，外部校准，电磁力质量传感器，七级防震滤波可调功能。称重稳定时间可调功能。内置时间温度设定显示功能。